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主要優(yōu)點
1.表面陽化航空鋁合金;
2.高精度自潔式空氣軸承;
3.高精度歐洲進(jìn)口光柵尺;
4.精密三角梁專利技術(shù)。
應(yīng)用領(lǐng)域
廣泛的應(yīng)用于汽車、電子、機(jī)械、汽車、航空、、模具等行業(yè)中的箱體、機(jī)架、齒輪、凸輪、蝸輪、蝸桿、葉片、曲線、曲面等的測量、五金、塑膠等行業(yè)中。

儀器簡介
三坐標(biāo)測量儀是指在一個六面體的空間范圍內(nèi),能夠表現(xiàn)幾何形狀、長度及圓周分度等測量能力的儀器,又稱為三坐標(biāo)測量機(jī)或三坐標(biāo)量床。三坐標(biāo)測量儀又可定義“一種具有可作三個方向移動的探測器,可在三個相互垂直的導(dǎo)軌上移動,此探測器以接觸或非接觸等方式傳遞訊號,三個軸的位移測量系統(tǒng)(如光柵尺)經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計算機(jī)等計算出工件的各點(x,y,z)及各項功能測量的儀器”。三坐標(biāo)測量儀的測量功能應(yīng)包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等 [1] 。
機(jī)型介紹
結(jié)構(gòu)型式:三軸花崗巖、四面全環(huán)抱的德式活動橋式結(jié)構(gòu)
傳動方式:直流伺服系統(tǒng) + 預(yù)載荷高精度空氣軸承
長度測量系統(tǒng):RENISHAW開放式光柵尺,分辨率為0.1μm
測頭系統(tǒng):雷尼紹控制器、雷尼紹測頭、雷尼紹測針
機(jī) 臺:高精度(00級)花崗巖平臺
使用環(huán)境:溫度(20±2)℃,濕度40%-70% ,溫度梯度1℃/m,溫度變化 1℃/h
空氣壓力:0.4 MPa - 0.6 Mpa
空氣流量:25 L/min
長度精度MPEe: ≤2.1+L/350 (μm)
探測球精度MPEp: ≤2.1μm

截面掃描(Section Scan)
截面掃描方式僅適用于有CAD曲面模型的工件,它允許對工件的某一截面進(jìn)行掃描,掃描截面既可沿X、Y、Z軸方向,也可與坐標(biāo)軸成一定角度。通過定義步長可進(jìn)行多個截面掃描??稍趯υ捒蛑性O(shè)置截面掃描的邊界點。按“剖切CAD”轉(zhuǎn)換按鈕,可在CAD曲面模型內(nèi)尋找任何孔,并可采用與開線掃描類似方式定義其邊界線,PCDMIS程序?qū)⑹箳呙杪窂阶詣颖荛_CAD曲面模型中的孔。按用戶定義表面剖切CAD的方法為:進(jìn)入“邊界點”選項;進(jìn)入“CAD元素選擇”框;選擇表面;在不清除“CAD元素選擇”框的情況下,選擇“剖切CAD”選項。此時PC DMIS程序?qū)⑶懈钏x表面尋找孔。若CAD曲面模型中無定義孔,就沒有必要選“剖切CAD”選項,此時PC DMIS將按定義的起始、終止邊界點進(jìn)行掃描。對于有多個曲面的復(fù)雜CAD圖形,可對不同曲面分組剖切,*#將剖切限制在局部CAD曲面模型上。
邊界掃描(Perimeter Scan)
邊界掃描方式僅適用于有CAD曲面模型的工件。該掃描方式采用CAD數(shù)學(xué)模型計算掃描路徑,該路徑與邊界或外輪廓偏置一定距離(由用戶選定)。創(chuàng)建邊界掃描時,先選定“邊界掃描”選項;若為內(nèi)邊界掃描,則在對話框中選擇“內(nèi)邊界掃描”;選擇工作曲面時,啟動“選擇”復(fù)選框,每選一個曲面則加亮一個,選定所有期望曲面后,退出復(fù)選框;點擊表面確定掃描起始點;在同一表面上點擊確定掃描方向點;點擊表面確定掃描終止點,若不給出終止點,則起始點即為終止點;在“掃描構(gòu)造”編輯框內(nèi)輸入相應(yīng)值(包括“增值”、“CAD公差”等);選擇“計算邊界”選項,計算掃描邊界;確認(rèn)偏差值正確后,按“產(chǎn)生測點”按鈕,PC DMIS程序?qū)⒆詣佑嬎銏?zhí)行掃描的理論值;點擊“創(chuàng)建”。

三坐標(biāo)測量儀三軸均有氣源制動開關(guān)及微動裝置,可實現(xiàn)單軸的精密傳動,采用高性能數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。應(yīng)用于產(chǎn)品設(shè)計、模具裝備、齒輪測量、葉片測量機(jī)械制造、工裝夾具、汽模配件、電子電器等精密測量。
中文名 三坐標(biāo)測量儀 外文名 Trilinear coordinates measuring instrument;Coordinate measuring machine (CMM) X 軸 2500 mm Z 軸 1000 mm Y 軸 1500 mm 領(lǐng) 域 工程技術(shù)
重定位整合
1 、應(yīng)用背景
在產(chǎn)品的測繪過程中,往往不能在同一坐標(biāo)系將產(chǎn)品的幾何數(shù)據(jù)一次測出。其原因一是產(chǎn)品尺寸超出測量機(jī)的行程,二是測量探頭不能觸及產(chǎn)品的,三是在工件拆下后發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)缺失,需要補測。這時就需要在不同的定位狀態(tài)(即不同的坐標(biāo)系)下測量產(chǎn)品的各個部分,稱為產(chǎn)品的重定位測量。而在造型時則應(yīng)將這些不同坐標(biāo)系下的重定位數(shù)據(jù)變換到同一坐標(biāo)系中,這個過程稱為重定位數(shù)據(jù)的整合。
對于復(fù)雜或較大的模型,測量過程中常需要多次定位測量,終的測量數(shù)據(jù)就必需依據(jù)一定的轉(zhuǎn)換路徑進(jìn)行多次重定位整合,把各次定位中測得的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成一個公共定位基準(zhǔn)下的測量數(shù)據(jù)。
2 、重定位整合原理
工件移動(重定位)后的測量數(shù)據(jù)與移動前的測量數(shù)據(jù)存在著移動錯位,如果我們在工件上確定一個在重定位前后都能測到的形體(稱為重定位基準(zhǔn)),那么只要在測量結(jié)束后,通過一系列變換使重定位后對該形體的測量結(jié)果與重定位前的測量結(jié)果重合,即可將重定位后的測量數(shù)據(jù)整合到重合前的數(shù)據(jù)中。重定位基準(zhǔn)在重定位整合中起到了紐帶的作用.
PID控制是:比例,積分,微分控制的縮寫。
P參數(shù):決定系統(tǒng)對位置誤差的整個響應(yīng)過程。數(shù)值越低,系統(tǒng)越穩(wěn)定,不產(chǎn)生振蕩,但剛性差,到位誤差大;數(shù)值越高,剛性越好,到位誤差小,但系統(tǒng)可能產(chǎn)生振蕩。
I 參數(shù):控制由于摩擦力和負(fù)載引起的靜態(tài)到位誤差。數(shù)值越低,到位時間越長;數(shù)值越高,可能在理論位置上下振蕩。
D參數(shù):此參數(shù)通過阻止誤差變化過沖給系統(tǒng)提供阻尼和穩(wěn)定性。數(shù)值越低,使系統(tǒng)對位置誤差響應(yīng)快;數(shù)值越高,系統(tǒng)響應(yīng)越慢。
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