成色皆可
付款方式皆可
工作時間24H
業(yè)務范圍全國
報價方式面議實物為準
上海東時貿(mào)易有限公司高價回收Agilent安捷倫N5182A信號源 高價回收工廠閑置儀器,整批或單出,評估
評估、現(xiàn)金、高價、上門回收進口儀器儀表
網(wǎng)絡分析儀:E5071C/B/A、E5063A、E5062A、
E5061A/B、8753d/E/ES、
ZVB8、ZNB8、ZVL6、E5080A、N5230A/C、
E8364B等等
頻譜分析儀:N9020A、E440X系列、FSV系列、FSW系列、E444X系列等等
藍牙測試儀:MT8852B/A、MT8850A、N4010A、Q2010,2011,2012等等
信號發(fā)生器:N5182B/A、E8257D、SMU200A、N5183A/B、E4438C、SMBV100A等等
綜合測試儀:CMW500、CMW270、HP8924C、
8921A、IQ系列等等
LCR測試儀:E4980A、4287A、4284A、E4981A、4291A/B、4294A等等
噪聲分析儀:N8973A、N8974A、N8975、N8976B等等
示波器:MSO系列、MDO系列、DPO系列、TDS系列等等
頻率計、萬用表、電源、音頻分析儀、視頻分析儀等
Agilent 8719D 微波矢量網(wǎng)絡分析儀
主要特性與技術指標
頻率范圍:50 MHz至13.5、20或40 GHz
新處理器的測量和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換速度提高了7倍
快速掃描、內(nèi)置合成源
集成的固態(tài)開關S參數(shù)測試儀
矢量接收機、誤差修正、時域
范圍高達105 dB

Agilent N5230C PNA-L 微波網(wǎng)絡分析儀
主要特性與技術指標
300 kHz 至 6/13.5/20 GHz 和 10 MHz 至 20/40/50 GHz
2 端口或 4 端口,具有兩個內(nèi)置信號源
110 dB 系統(tǒng)和 122 dB 接收機范圍,32,001 個測量點,32 通道
< 0.006 dB rms(選件 22x)
測量速度:每點 4 至 9 µs
描述
PNA-L 網(wǎng)絡分析儀的設計可滿足您的通用網(wǎng)絡分析需求,且價格在您的預算之內(nèi)。
300 kHz 至 6 GHz,2 端口
300 kHz 至 13.5 GHz,提供 2 端口和 4 端口型號
10 MHz 至 20 GHz,提供 2 端口和 4 端口型號
10 MHz 至 40 GHz,2 端口
10 MHz 至 50 GHz,2 端口
直觀的操作方式可簡化測量和加快測量速度
PNA-X 提供 10.4 英寸觸摸屏、采用下拉式菜單的簡單界面、硬鍵和功能鍵

測量向?qū)е周浖?br/>技術指標
寬范圍:測試端口上的范圍 > 123 dB(典型值)
快的測量速度:41 ms,進行全雙端口校準,掃描 1601 點時
低的跡線噪聲:0.004 dB rms,70 kHz IFBW 時
特性
內(nèi)置 Visual Basic for Applications(VBA)
強大的分析和誤差校正功能
隨時升級所有可用的 ENA 選件
選件配置
E5071C—240 雙端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—245 雙端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—440 4端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—445 4端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—280 雙端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—285 雙端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—480 4端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—485 4端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—008 頻率偏置模式
E5071C—010 時域分析能力
E5071C—790 測量向?qū)е周浖?br/>E5071C—1E5 高穩(wěn)定度時基

Agilent E5071B ENA射頻網(wǎng)絡分析儀,300 kHz至8.5 GHz
主要特性與技術指標
在測試端口處保持125 dB范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?br/>描述
Keysight E5071B網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。
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